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在(zai)日(ri)常(chang)色(se)譜(pu)定(ding)量(liang)分(fen)析(xi)中(zhong)，出(chu)現(xian)色(se)譜(pu)峰(feng)形(xing)異(yi)變(bian)或(huo)鬼(gui)峰(feng)，不(bu)但(dan)嚴(yan)重(zhong)影(ying)響(xiang)定(ding)量(liang)精(jing)度(du)，甚(shen)至(zhi)使(shi)分(fen)析(xi)工(gong)作(zuo)無(wu)法(fa)進(jin)行(xing)，今(jin)天(tian)和(he)大(da)家(jia)一(yi)起(qi)把(ba)峰(feng)形(xing)異(yi)變(bian)常(chang)見(jian)類(lei)型(xing)加(jia)以(yi)分(fen)析(xi)，並(bing)給(gei)出(chu)可(ke)能(neng)原(yuan)因(yin)。
我們在此討論的峰形異變是指在色譜分析方法確定後，與曾經記錄的已知色譜圖比較時，出現某些色譜峰形的偏離畸變或多餘峰。
或者說，對於一已經設立好的色譜分析方法，由於不要求或出於無奈時有些峰分離不開、拖尾或峰形不對稱等並不影響方法的實施情況，不屬於上述因儀器故障、經驗不足或操作失誤造成的峰形異變。
否則需要重新審定或修改原來的分析方法。另外，還應指出：由(you)於(yu)安(an)裝(zhuang)使(shi)用(yong)沒(mei)有(you)評(ping)價(jia)過(guo)的(de)色(se)譜(pu)柱(zhu)可(ke)能(neng)出(chu)現(xian)的(de)峰(feng)形(xing)拖(tuo)尾(wei)，分(fen)離(li)不(bu)好(hao)或(huo)峰(feng)形(xing)畸(ji)變(bian)，也(ye)不(bu)屬(shu)於(yu)討(tao)論(lun)內(nei)容(rong)。顯(xian)然(ran)叫(jiao)一(yi)個(ge)普(pu)通(tong)色(se)譜(pu)分(fen)析(xi)工(gong)作(zuo)者(zhe)，在(zai)常(chang)規(gui)工(gong)作(zuo)條(tiao)件(jian)下(xia)去(qu)判(pan)斷(duan)色(se)譜(pu)柱(zhu)的(de)優(you)劣(lie)，要(yao)求(qiu)似(si)乎(hu)高(gao)了(le)一(yi)些(xie)。
在懷疑峰形異變尋找可能原因、排除方法之前最好先做以下工作：
仔細核查操作條件，與分析方法要求是否一致；
和當初分析所存的標準色譜圖對照，判斷是否真出了問題；
逐項仔細觀察儀器或設備工作狀態，看有無操作失誤而引起的出峰失常；
然後在依據以下15種異常峰形分析可能原因與排除方法。
台階峰
(1)TCD熱絲被樣品中所含鹵素、氧、硫等元素腐蝕；
(2)氣體流量突變如：注射墊突然漏氣，氣路受阻等；
(3)記錄色譜峰裝置故障如：拉線鬆；
負峰
(1)TCD用氮做載氣，由於待測組分在N2中濃度不同，熱傳導值呈現非線性而可能出現負峰,有時可以通過改變載 氣流量或進樣量克服；
(2)操作ECD時進樣量過大而出負峰，這是由於工作原理由電子捕獲轉變為電離檢測，此時靈敏度還會大大降低；
(3)操作FID，低電離效率的溶劑(如，CS2)或雜質出現，使原基流較高的輸出基線減小而顯示為負峰；
(4)操作FID，在無極化電壓，樣品量較大可能出現負峰；
(5)操縱NPD、FPD時氣流比不合適，溶劑或某些組分會出現負峰；
“N”或“W”形峰
(1)TCD操作，用N2作載氣由於熱傳導率非線性引起；
(2)FID操作時，樣品溶劑電離效率低(如，CS2)，或氣流比欠佳時；
(3)ECD操作時，由於檢測器被汙染，溶劑峰或待測組分含量較高，或脈衝電源有毛病；
前沿峰
(1)汽化溫度偏低；
(2)載氣流量小；
(3)進樣量大，汽化時間長；
(4)汽化室被汙染，樣品有吸附效應；
(5)樣品在柱頭有冷凝或色譜柱被汙染；
(6)進樣技術差(揮發性組分的進樣速度太慢)；
(7)峰前出現了“鬼”峰；
拖尾峰
(1)色譜柱安裝不合格，樣品不能以“塞子”形進入色譜柱，柱與檢測器安裝的死體積太大；
(2)樣品未能注射入柱頭中(柱頭進樣方式)；
(3)汽化管沒有安裝好或破損，樣品隻能脫尾進入色譜柱；
(4)化室的溫度低或偏高；
(5)載氣流量偏低；
(6)進樣量大；
(7)載氣係統(如注射墊處)有漏氣；
(8)進樣器(汽化室)，被樣品中高沸點雜質或注射墊殘渣汙染；
(9)色譜柱被汙染至使被分析組分和高沸點汙染物作用；
(10)補充氣未開或偏低；
(11)色譜柱溫度偏低或失效；
(12)甲烷化Ni催化劑失效；
(13)進樣技術差(如速度不合適);
(14)正好有幹擾峰(鬼峰)出現(如誤用被汙染的注射針)；
(15)無極化電壓(FID)，此時伴隨靈敏度偏低；
(16)樣品前處理有毛病；
出峰後基線下移
(1)樣品量大，特別是溶劑改變了工作狀態；
(2)FID被汙染狀況發生改變，或氣流比發生變化；
(3)係統出現漏氣，或出現堵塞；
(4)色譜柱被汙染；
(5)樣品處理不當，如：樣品中有些物質和固定相發生作用；
程序升溫時基流增加(漂移大)，噪聲增加
(1)色譜柱需重新老化或失效；
(2)新換載氣純度欠佳；
(3)過濾器失效；
(4)樣品前處理不當，如：雜質幹擾物太多；
(5)靈敏度太高；
(6)數據處理裝置的判峰參數設置不合理；
圓頂寬峰
(1)樣品量大起出了色譜柱容量；
(2)汽化溫度低；
(3)色譜柱沒按要求安裝；
(4)檢測器工作狀態不對，如載氣太小、沒開補充氣；
(5)數據處理裝置的判峰參數(半峰寬)設置偏大；
平頂峰（未到滿量程）
(1)樣品量大，放大器量程高，衰減大，信號輸出飽和；
(2)檢測器已工作在飽和區；
(3)數據處理輸入信號極性接錯，或零點失調；
10.基線出現波浪狀峰：
(1)高靈敏度操作儀器未穩定之前；
(2)操作TCD、ECD時，柱箱或檢測器箱溫度周期變；
(3)環境溫度對儀器控溫影響；
(4)電壓不穩，對柱溫控製精度影響；
(5)過溫保護設置低於控製溫度；
(6)壓力(流量)調節閥失調，周期變化；
原來能分開的峰分不開
(1)色譜柱安裝不合要求；
(2)色譜柱被汙染，需重新活化；
(3)色譜柱壽命已到，需更換；
(3)新更換的氣源，純度不佳；
(4)濾器失效，重新老化或更換；
(5)色譜柱溫度和載氣流量需要微調優化(色譜分析一般允許)；
(6)檢測器工作狀態變化(如ECD漏氣、FID氣流比欠佳)；
(7)汽化室被汙染，注射墊漏氣；
(8)樣品處理不當，雜質幹擾物太多；
(9)樣技術太差；
(10)進樣量超出了色譜柱容量；
(11)數據處理的判峰參數，半峰寬或斜率設置不合理；
(12)放大器量程或衰減設置失誤；
直角峰
(1)儀器輸出負信號超出了數據處理的範圍；
(2)數據處理裝置零點未校正，或量程設置太大無法判斷基線位置；
(3)數據處理裝置輸入信號極性接反，零點設置不對；
帶毛刺峰
(1)儀器工作不穩定，噪聲大於要求；
(2)數據處理裝置的判峰參數，半峰寬和斜率設置太小；
(3)極化電壓(FID)不穩；
操作條件未變，原來能判別的峰不見了
(1)色譜柱被汙染或失效；
(2)氣路係統被汙染(如氣源純度低，過濾器失效)；
(3)注射墊漏氣；
(4)注射針密封性差；
(5)數據處理的判峰參數，如：半峰寬和斜率設置偏大；
(6)進樣方法不對；
“鬼峰”(怪峰，多餘峰，記憶峰)
(1)上一次進樣的高沸點雜質峰自然流出；
(2)載氣不純過濾器失效使低沸點的汙染物冷凝在色譜柱頭，程序升溫時正常流出；
(3)注射墊未經老化或無隔墊清洗而出的汙染峰；
(4)汽化溫度太高或嚴重汙染至使樣品某些組分分解；
(5)樣品某些組分與被汙染固定相產生了作用；
(6)色譜柱溫度太高固定相分解；
(7)使用了被汙染的注射針( 本身不合格，手摸或進過易汙染的樣品)；
(8)樣品予處理不完善或用錯溶劑；
(9)樣品中有空氣；
(10)TCD、ECD等密封性差(漏氣)；
(11)電源不穩，對控溫或放大器有不良影響；
(12)色譜柱堵塞物使用不當，如玻璃棉未按要求進行處理。
文章（文字）來源：網絡
