1.電轟擊電離（EI）
一定能量的電子直接作用於樣品分子，使其電離，且效率高，有助於質譜儀獲得高靈敏度和高分辨率。有機化合物電離能為10eV左右，50-100eV時，大多數分子電離界麵最大。70eV能量時

，得到豐富的指紋圖譜，靈敏度接近最大。適當降低電離能，可得到較強的分子離子信號，某些情況有助於定性。

  2.化學電離（CI）
電dian子zi轟hong擊ji的de缺que陷xian是shi分fen子zi離li子zi信xin號hao變bian得de很hen弱ruo
，甚shen至zhi檢jian測ce不bu到dao。化hua學xue電dian離li引yin入ru大da量liang試shi劑ji氣qi，使shi樣yang品pin分fen子zi與yu電dian離li離li子zi不bu直zhi接jie作zuo用yong，利li用yong活huo性xing反fan應ying離li子zi實shi現xian電dian離li，其qi反fan應ying熱re效xiao應ying可ke能neng較jiao低di
，使shi分fen子zi離li子zi的de碎sui裂lie少shao於yu電dian子zi轟hong擊ji電dian離li。商shang用yong質zhi譜pu儀yi一yi般ban采cai用yong組zu合heEI/CI離子源。試劑氣一般采用甲烷氣
，也有N2,CO,Ar或混合氣等。試劑氣的分壓不同會使反應離子的強度發生變化
，所以一般源壓為0.5-1.0Torr。

3.大氣壓化學電離（APCI）
在大氣壓下
，化學電離反應速率更大
，效率更高，能夠產生豐富的離子。通過一定手段將大氣壓力下產生的離子轉移至高真空處（質量分析器中）。早期為Ni63輻射電離離子源，另一種設計是電暈放電電離，允許載氣流速達9L/S。需要采取減少源壁吸附和溶劑分子幹擾。

  4.二次離子質譜（FAB/LSIMS）
在材料分析上，人們利用高能量初級粒子轟擊表麵（塗有樣品的金屬鈀），再對由此產生的二次離子進行質譜分析。主要有快原子轟擊（FAB）和液體二次離子質譜（LSIMS）兩種電離技術,分別采用原子束和離子束作為高能量初級粒子。一般采用液體基質負載樣品（如甘油
、硫甘油、間硝基苄醇、二乙醇胺
、三乙醇胺或一定比例混合基質等）。主要原理是分子質子化形成MH+離子，其中有些反應會形成幹擾。

  5.等離子解析質譜（PDMS）
采用放射性同位素（如Cf252）的核裂變碎片作為初級粒子轟擊樣品，將金屬箔（鋁或鎳）塗上樣品從背麵轟擊，傳遞能量使樣品解析電離。電離能大大高於FAB/LSIMS，可分析多肽和蛋白質。

6.激光解吸/電離（MALDI）

波長為1250-775的真空紫外光輻射產生光致電離和解吸作用，獲得分子離子和有結構信息的碎片，適於結構複雜、不易氣化的大分子，並引入輔助基質減少過分碎裂。一般采用固體基質
，基質樣品比為10000/1。根據分析目的不同使用不同的基質和波長。

  7.電噴霧電離（ESI）
電噴霧電離采用強靜電場（3-5KV），形成高度荷電霧狀小液滴，經過反複的溶劑揮發-液滴裂分後，產生單個多電荷離子，電離過程中，產生多重質子化離子。

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