一、比如檢測完高濃度的Al中的雜質元素後

，在做其它種類樣品中的AL元素，除了更換炬管外，霧化器是否需更換?另外清洗時間大概要多久?有無其它辦法?
那具體要看你的高純度AL是shi怎zen麼me做zuo的de了le，如ru果guo基ji體ti很hen高gao，那na麼me記ji憶yi效xiao應ying就jiu很hen強qiang烈lie，炬ju管guan，霧wu化hua器qi，都dou要yao換huan，離li子zi透tou鏡jing什shen麼me的de可ke能neng也ye要yao洗xi洗xi，清qing洗xi時shi間jian和he你ni的de儀yi器qi有you關guan係xi

，交jiao叉cha的de比bi同tong心xin的de洗xi的de時shi間jian要yao更geng長chang。

二、AMU表示峰寬和峰寬有關，可它是峰寬的單位嗎?中文是什麼?

峰寬的單位是原子質量單位。

三、請問在使用ICP-MS做(zuo)元(yuan)素(su)分(fen)析(xi)時(shi)，內(nei)標(biao)元(yuan)素(su)的(de)濃(nong)度(du)如(ru)何(he)確(que)定(ding)。一(yi)個(ge)樣(yang)品(pin)中(zhong)某(mou)元(yuan)素(su)要(yao)求(qiu)定(ding)量(liang)分(fen)析(xi)
，我(wo)們(men)先(xian)做(zuo)了(le)一(yi)個(ge)全(quan)掃(sao)描(miao)的(de)定(ding)量(liang)分(fen)析(xi)，發(fa)現(xian)樣(yang)品(pin)中(zhong)要(yao)求(qiu)分(fen)析(xi)的(de)元(yuan)素(su)含(han)量(liang)很(hen)高(gao)，比(bi)如(ru)1000ppm


，此時我們做定量分析時內標用10ppb這樣低的濃度可以嗎?

1. 濃(nong)度(du)應(ying)該(gai)沒(mei)有(you)硬(ying)性(xing)規(gui)定(ding)吧(ba)，但(dan)是(shi)不(bu)能(neng)太(tai)小(xiao)，如(ru)果(guo)濃(nong)度(du)太(tai)小(xiao)，本(ben)身(shen)儀(yi)器(qi)的(de)本(ben)底(di)以(yi)及(ji)其(qi)他(ta)元(yuan)素(su)的(de)幹(gan)擾(rao)就(jiu)會(hui)明(ming)顯(xian)。這(zhe)樣(yang)在(zai)校(xiao)準(zhun)別(bie)的(de)數(shu)據(ju)就(jiu)不(bu)準(zhun)確(que)了(le)。

2. 內標主要用來校正儀器的漂移。如果其它元素對內標基本上沒有同質量的幹擾，我想濃度差一些沒什麼問題。

其次，ICP-MS做痕量分析用，測量的元素濃度是有限度的，PPM級以上用其它儀器能更方便的測定。

3. 我們實驗室配製的多元素標準液為1ppb, 添加之內標濃度為0.5ppb。

若待測物濃度太高可先將待測物稀釋至適當濃度再添加內標進行分析, 但如果稀釋倍數太高, 似乎添加內標就無意義。

4. 儀器檢測的試樣濃度是有限製的，太高了需要稀釋。內標我做是比檢測限大
，比推薦值小
，隻要沒有什麼明顯的幹擾就用了。

5. 加內標的濃度由儀器的內標讀數的精密度決定。

四
、請問ICP-MS選擇是以質量數接近較好呢，還是以電離能接近較好?或者以其它做為選擇依據?我用Sc做內標，發現在食品基體中，Sc的計數變化非常大，是否有多原子幹擾?

1. 應該選擇質量數接近的吧。

2. 內標主要是為了檢測信號隨試驗條件的變化而加入的。SC的計數變化大說明試驗條件不一樣了
，45質量數的幹擾有12C16O21H+, 28Si16O1H+, 29Si16O+, 14N216O1H+, 13C16O2+ pe的數據
，應該還是選擇質量數接近的元素。

五、我們用的是熱電的ICP/MS
，可是最近鈾信號穩定性總是調不到2%以下
，以前我們調節信號時，是Be比較難調，現在Be挺好，可是鈾又不好了，請問各位高手
，這是什麼原因呢?是否信號穩定性不在2%以下就不可以做實驗呢?

我們調信號時一般不看Be, 如果Co,In,U的精密度小於3%就很好了, 此時Be一般都還可以, 因為在調最佳化是顯示的是瞬時信號, 如果能小於3%, 那麼你分析時的RSD肯定能夠小於1%。

六、有誰知道做校準曲線時

，對force through一項，分別在什麼情況下選用blank、origin、none?

1. 要看具體直線的特點了


，首先

，如果標準的配製沒問題，空白較好，那麼選擇哪種方式都不重要了。

如果空白較大，那麼肯定要through blank，等同於扣除空白。

由於標準配置不好，或者不準確。

有時候選擇through origin,主(zhu)要(yao)的(de)原(yuan)因(yin)是(shi)通(tong)過(guo)其(qi)它(ta)點(dian)擬(ni)和(he)的(de)直(zhi)線(xian)焦(jiao)距(ju)是(shi)負(fu)的(de)或(huo)者(zhe)正(zheng)的(de)很(hen)大(da)
，空(kong)白(bai)又(you)沒(mei)那(na)麼(me)大(da)，很(hen)可(ke)能(neng)是(shi)標(biao)準(zhun)中(zhong)的(de)一(yi)部(bu)分(fen)濃(nong)度(du)不(bu)準(zhun)確(que)，因(yin)此(ci)可(ke)以(yi)強(qiang)製(zhi)通(tong)過(guo)零(ling)點(dian)，減(jian)少(shao)誤(wu)差(cha)，使(shi)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)更(geng)可(ke)信(xin)一(yi)些(xie)。

2. ruguobiaozhunrongyepeizhidezhunque，namekouchukongbaihoudezhixiankendingtongguolingdian
，shijiquxianzhong，wangwangshinongduyuedi，quxianshangdediankexinduyuecha，wodeganjiaoshidangxianxingbuhaodeshihou，keyixuanzetongguoyuandian
，zheyangquxianhuiyousuogaishan
，xiuzhengdinongdushujudiandebuliangyingxiang。

七、儀器裏有汞燈的是怎麼用的,有什麼作用?
校正波長用的。

八
、想請教一下在Operate狀態下由於氬氣用盡而熄火，氣路不漏氣，炬管也是好的，但是重新點火時，總是氣路通幾秒鍾後儀器就會自動關閉氣路，GAS MODULE 試了幾次還是這樣，該怎麼辦?
試一下下麵的方法:
1.退出軟件, 關閉計算機;
2.打開氬氣, 調分壓到0.6MPa;
3.重新打開計算機, 進入軟件, 一般可以正常(主要是錯誤信號沒有消除)。
如果還不行, 盡快跟儀器廠家聯係, 以免耽誤工作。

九、ICP-MS比較快的前處理方法，環境樣品?
1. 采用微波爐消解。
2. 高壓微波消解係統
，MILLSTONE或CEM等。
3. 微波消解或酸浸取.視樣品和元素而定.如果作同位素豐度,用浸取就夠了。
4. 看什麼環境樣品了
，水樣用酸固定就可以了，土壤是比較 難做的，不過微波消解也可以，按照你做的元素不同有不同的速度和方法呀。

十、ICP-MS在開機後真空上不去，真空顯示為ERROR，檢查了分子泵和真空泵都沒有問題的
，不知道是什麼原因?
1. 顯示是error，那一定應該是控製和通訊的問題吧。
2. 檢查一下循環水是否打開, 流量和水壓是否正確, 一般的分子泵都帶有水流連鎖保護功能, 我們的儀器如果不開水循環, 真空就不能抽上去,因為分子泵不啟動。
3. 如果是熱電的X7係列通訊出了問題,你可以點擊windows任務欄下一個齒輪圖標,找到連接那,先斷開再連接,或是重啟機子。
4. 溫差有沒有設定好呢
，環境的溫度也有關係哦。
5. 也有可能是泵的問題。

十一、最近我用的ELAN6000 ICP-MS本底很高

，PB有10ppb的計數，Ni也(ye)很(hen)高(gao)。已(yi)經(jing)換(huan)了(le)進(jin)樣(yang)錐(zhui)了(le)，炬(ju)管(guan)也(ye)拆(chai)下(xia)洗(xi)過(guo)，霧(wu)化(hua)室(shi)也(ye)衝(chong)過(guo)，可(ke)計(ji)數(shu)就(jiu)是(shi)下(xia)不(bu)來(lai)。進(jin)樣(yang)的(de)時(shi)侯(hou)高(gao)，不(bu)進(jin)樣(yang)會(hui)低(di)下(xia)來(lai)
，應(ying)該(gai)不(bu)是(shi)氣(qi)的(de)幹(gan)擾(rao)吧(ba)。進(jin)樣(yang)的(de)水(shui)應(ying)該(gai)沒(mei)問(wen)題(ti)。
1. 建議重新優化儀器。
2. 檢查一下儀器的分辨率,一般10%峰高處的寬度應為0.75 AMU 左右, 如果太寬有可能是幹擾, 另外檢查MASS 220 處的背景, 這個地方應該是儀器背景, 如果高於10 CPS, 估計是電子係統的噪音,我用的是熱電的PQ係列, 可能有所不同, 供參考。

3. 大概還是霧化器沒洗幹淨。

十二
、樣品測量類型下麵有blank ; Fully quant standard;instrument setup;unkown;QC sample ; addition standard;zero addition standard;幾個類型，我平常隻用 blank ; Fully quant standard;unkown三個類型的。問;其他幾個類型都是在檢測什麼的時候才使用的?注：所用儀器是element X係列的。
空白
Fully quant standard;
常規地定量分析標準；
instrument setup;
校準儀器時使用；
unkown;
未知待測樣品；
QC sample ;
質控樣品
，分析中穿插測量；
addition standard;
標準加入樣品；
zero addition standard;
零標準加入樣品。

十三、質譜數據處理峰高法和峰麵積法有什麼區別?兩種方法各適用於哪類分析?
對於我用的熱電x-7這台儀器
，有兩種不同的測量方法：
跳峰：從一個質樸峰的峰尖直接跳到另外一個峰尖測量，每個峰尖隻取少量的點進行測量。測量結果為幾點峰值的平均數(cps)
跳峰方式用於元素含量定量測量。
掃描：在設定區域內固定間隔，每個點計數，最後可以計算出每個峰所有點平均值(cps)，等同於峰麵積(因為峰寬一致)。
掃描方式用於定性分析較多(對樣品不了解)

，靈敏度差。

十四、炬管用多久應該更換?炬管與錐有什麼關係?
1. 正常情況下，一年應該沒問題的，不過你得時常注意你的錐哦!
2. 錐孔處很容易積鹽份的
，時間一長影響分析的穩定性和儀器的靈敏度。

十五、請問怎樣降低ICP-MS霧化器流速而又對其靈敏度影響較小?怎樣減小其背景值?
1. 可以更換的流量的霧化器。
2. 霧化器流速受控於蠕動泵轉速，你可以降低蠕動泵的轉速試試。
3. 霧化效率對靈敏度有很大影響，但霧化器流速對靈敏度影響不大。
4. 背景值與儀器的噪音、實shi驗yan用yong去qu離li子zi水shui以yi及ji離li子zi檢jian測ce器qi靈ling敏min度du有you關guan。想xiang降jiang低di背bei景jing值zhi，主zhu要yao還hai是shi用yong合he格ge的de去qu離li子zi水shui比bi較jiao有you效xiao。經jing常chang合he理li清qing洗xi進jin樣yang管guan道dao，即ji開kai機ji和he關guan機ji時shi用yong去qu離li子zi水shui清qing洗xi好hao再zai關guan機ji和he實shi驗yan。盡jin量liang要yao避bi免mian過guo高gao濃nong度du的de樣yang品pin進jin入ru，這zhe樣yang會hui給gei儀yi器qi造zao成cheng不bu必bi要yao的de汙wu染ran、降低檢測器的壽命。
5. 選擇低流量高效霧化器可以在減少進樣量的情況下不影響靈敏度。背景值與儀器的離子光學係統及四極杆、檢測器還有信號處理有關
，背景值與空白值不是同一個概念。
6. 不妨加酒精試試。ICP-AES好用。
7. 調節蠕動泵。

十六
、什麼是ICP-MS?
1. ICP-MS是電感耦合等離子體-質譜的意思。
2. ICP-MS其英文全稱是：inductively coupled plasma-mass spectrometry 。

十七、ICP-MS基體問題是怎麼一回事呢?
1. 基體幹擾主要是樣品中某些不像測量的元素對測量結果的影響。
常見的比如
，同樣質量數的不同元素對測量結果的影響，測量溶液中的其他集體成分對被檢測離子強度的抑製等。
2. 大白話：基體就是分析鋁中雜質，此時鋁就是基體。

十八、內標的作用?
用來校正響應信號的變化包括基體效應和儀器的漂移.基體效應又包括傳輸效應霧化效應電離效應和空間的電荷效應。

十九
、ICP-MS的分類?
總結了一下
，目前市麵上成熟的ICP-MS主要有以下幾類：
1
、四級杆作為質量分辨器的ICP-MS等。
2、以四級杆和磁場的高分辨ICP-MS。
3、多接受ICP-MS，主要用於地質和核工業應用
，測量同位素之間的精確比值。
4、以其他方式作為質量分辨器的ICP-MS。

二十、什麼是內標校正法?
用一個元素作為參考點對另外一個元素進行校準或校正的方法叫內標校正法。
可用於以下目的：
1監測和校正信號的短期漂移
2監測和校正信號的長期漂移
3對第二元素進行校正
4校正一般的基體效應

二十一

、為何在熄火時分子泵有時會停,是否因為Ar氣的壓力過大造成的?
1. 我想可能是儀器自動保護控製的吧
2. 正常熄火時不應該停 從analysis 到 stand by 機械泵和渦輪泵是不會停的
3. 真空係統需要維護了
4. 可能是滑動閥關閉時動作太慢而引起的, 或是哪裏漏氣, 我們曾經出現過, 在廠家工程師電話指導下自己弄好了
5. 應該清洗真空錐了

二十二
、激光燒蝕ICP-MS做表麵分析。哪位大蝦用過，指點一下?
ICP-MS采用時間分辨分析模式，有與樣品基體匹配的標樣就可以做。

二十三、ICP-MS中談到的Plasmalok™專利技術，消除錐口二次電弧放電是怎麼做事?
在李冰老師翻譯的<<等離子體質譜手冊>>中有介紹, 一般的ICP-MS的ICP的RF的工作線圈是靠近錐的一端是接地的,另一端是大功率的RF,而Plasmalok是工作線圈的中間接地,兩頭一邊是+RF,另一邊是-RF, 它的好處是等離子體電位比較低,但是也有缺點,那就是由於線圈靠近錐的部分仍有高壓,而錐是接地的,因而兩者之間容易引起放電,我見過PE的用戶的線圈,靠近錐的一端是黑的,另一端是紫銅的顏色,現在熱電和Agilent在工作線圈和炬管之間加了一個金屬屏蔽圈,並且使其接地,也是為了降低等離子體電位,並且不會引起放電,我們的儀器就是這種方式。

二十四
、是否可以用來分析鉬原礦及尾礦中鉬的含量?
1. 不可以


，因為鉬太高了。
2. 不可以，因質譜儀器適合測量痕量組分，高含量可使霧化及四極杆等整個係統汙染，造成測量空白太高
，以後無法使用。

3. 過分地稀釋也可以測量，但無法滿足測試質量要求的需要。

二十五

、我用的是ICP-IES做土壤中金屬的含量。預處理我是用熱電的微波消解儀
，我先是把土壤風幹，然後用磨成粉

，再過篩，最後大約稱取0.2g左右，消解後無固體，但是檢測結果兩個平行樣很差
，相對偏差有時候有200%。
1. 如果所有的元素含量都不好那說明是製樣或消解過程有問題，如果個別的如鐵的可能是汙染引起的
2. 可能是樣品不均勻
3. 我做過,用100目的土壤稱取0.25XXg,微波消解平行性非常好.但不同的批次之間有差別,要很仔細才能做到重現性很好
4. 微波消解很可能不平行，不知道具體那些元素不好，是全部偏離還是部分偏離。

二十六
、我用ICP-MS測食品樣品效果不好
，怎樣才能很好的應用?測食品樣品中砷、鉛
、隔、銅、硒等
，他們之間有互相幹擾麼?
1. 砷\硒要用CCT(或DRC)吧?另外樣品製備也比較講究。
2. 你的標準曲線如何(r值)?如果樣品中Cu的含量比較高,你可以考慮Cu65測量.As應該考慮ArCl75的幹擾,最好用CCT(或DRC).另外在樣品消化過程中Se容易跑。
3. As75要注意ArCl的幹擾,如果CL很高的話用數學校正發比較困難。
4. Se82靈敏度較低, As75有幹擾, 7500a沒有碰撞反應池,這倆元素不好測,你們有原子熒光嗎? 用它測這倆元素估計更好些,其他元素應該沒問題。
5. 樣品處理時用微波消解器,硝酸加過氧化氫,高壓下消解.Se和As最好用氫化物發生器進樣-ICPAES或AFS作.ICP-MS作這兩個東東很煩。

二十七、一般資料中都說不能在Cl含量高溶液中測As，但我做過紫菜中的As，稀釋50倍測定的結果和稀釋前完全吻合，用標準加入法測定也是一樣的結果，但結果與AFS的差很大
，有沒有大蝦能解決這個問題。Cl的濃度要多大時才會對測定有影響
1. 稀釋在這裏應該是沒有作用的。因為Cl和As同步稀釋。如果寫了校正方程，Cl幹擾應該可以被校正。建議估計一下紫菜中氯含量，配置相當濃度的鹽酸溶液(無砷)
，看看在75有多少計數，相當多少量的砷，就可以估計出Cl的影響了。。
2. 還可以采用CCT技術來消除CL的幹擾, 很靈的.CCT是碰撞池技術。是引入He

、H2等混合氣，消除在ICP-MS測定As-75，Se-80等時由於ArCl-75，Ar2-80的多原子幹擾。
3. ArCl幹擾呀。用動態反映池可以消除。一般采用硝酸體係，盡量避免鹽酸體係。紫菜中的As，你做的是總量
，可以用溶劑萃取，做進一步的形態分析。紫菜中的As含量還是很高的。

二十八、在使用HF溶樣的情況下能否測量其中的痕量矽?比如說氧化鉭
1. 比較難, 如果使用高純氬, 並且溶樣時不用硝酸, 可能好一些。
2. 第一,測Si時溶樣加HF一定要小心Si形成SiF4跑了。
第二,盡量避免加HNO3,N有幹擾。
第三,試試用堿熔。
3. 推薦使用偏硼酸鋰。
4. 堿熔空白較高，可用HF熔解，水浴低溫下加熱，別超過60度。
5. 你ni作zuo的de是shi半ban導dao體ti吧ba，這zhe個ge要yao求qiu就jiu高gao了le，用yong半ban導dao體ti級ji別bie的de硝xiao酸suan和he氫qing氟fu酸suan體ti係xi可ke以yi解jie決jue問wen題ti，都dou不bu是shi難nan容rong的de東dong西xi，但dan是shi你ni的de儀yi器qi要yao用yong聚ju四si氟fu乙yi烯xi的de體ti係xi

，應ying該gai配pei備bei了le專zhuan業ye的de氫qing氟fu酸suan體ti係xi吧ba。
若用碰撞池作低含量的矽沒有問題，高含量的矽不帶ORS的儀器也可作。

二十九
、ICP-MS做Hg時係統清洗有什麼好辦法嗎?
1. 在清洗液中加點金(Au)的化合物, Au與Hg易結合形成絡合物。
2. 一般的濃度是10PPM，這樣就能比較好的清洗Hg的殘留了。
3. 用ICP-MS作汞最好不要作高濃度的，汞容易揮發，倒出跑!一般作<20ppb的比較好操作。
4. 我現在用0.1%巰基乙醇。
5. 用金溶液是經驗溶液，效果比較好。

三十、采用等離子體質譜測定地球化學樣品中銀時，重現性非常差，難以報出正確結果，請教哪位老師有好的解決方法?
1. 一

、是你硝解的問題，和采樣的問題。
二
、先用同一溶液測定幾次看重現性如何。
三
、若是樣品一會高銀一會低銀，那一定測不準，因為銀的記憶效應不容易去掉，好好清洗吧～～～
2. 銀的標準溶液不能放置時間過長，地球化學樣品銀的測定主要是幹擾問題。

三十一

、在ICP-MS的日常維護中除了清洗錐和霧化器還有什麼東西要注意的
，清洗的時間隔多長?我今天換了個新錐
，做完以後清洗時發現樣品錐和截取錐上都有一層藍色的東西洗不掉，請問有什麼辦法嗎
1. 用拋光氧化鋁粉擦。
2. 可以用幼砂紙打磨。
3. 危險，還是要廠家自己處理的好，PT錐和NI錐都應該有此服務的。該換的時候還是應該換的。
4. 以5%硝酸清洗即可。
5. 可以用鏡麵砂紙打磨呀，沒問題的
，但我覺得不能用酸洗，尤其是鎳錐

，洗過之後
，表麵發鎢，很難擦的。
6. 可以用稀硝酸超聲清洗,具體可以看說明書。我看說明書上沒有打磨的建議，維修工程師也不建議這樣做。
7. 我的意見是用拋光氧化鋁粉擦，不過用鏡相砂紙(很細的一種)打磨也可以。
8. 最重要外邊都不要緊 椎口不要造成磨損，不然影響儀器正常使用
，而且下次會很快富集。
9. 不同公司的儀器的維護方法不同。一般在5%的HNO3中浸泡5分鍾即可。有些儀器在兩個錐後麵有-100V到-4000V的de提ti取qu電dian壓ya
，錐zhui上shang的de沾zhan汙wu會hui被bei提ti取qu電dian壓ya拉la入ru質zhi譜pu儀yi中zhong，所suo以yi需xu要yao清qing洗xi徹che底di一yi些xie，比bi如ru氧yang化hua鋁lv粉fen擦ca亮liang。或huo者zhe浸jin泡pao過guo夜ye。有you什shen麼me問wen題ti最zui好hao直zhi接jie問wen儀yi器qi廠chang家jia。不bu同tong儀yi器qi維wei護hu方fang法fa不bu同tong
，不bu能neng通tong用yong
，否fou則ze可ke能neng會hui對dui錐zhui造zao成cheng損sun壞huai。如ru果guo用yong氧yang化hua鋁lv粉fen擦ca拭shi時shi尤you其qi要yao注zhu意yi錐zhui口kou的de裏li麵mian。
10. 5%硝酸洗，或者浸泡，注意時間要短!
11. 用脫脂棉蘸氧化鋁粉擦拭。
12. 可以用醋酸試一試。我們都是這麼洗得。
13. 建議還是用硝酸洗,用鋁粉雖然洗的很幹淨,但是Al的背景很難做下來,而且這樣比較耗費儀器器件。
14. 最好少洗錐

，否則你要調節離子透鏡好長時間，穩定達到新平衡好長時間。

三十二、ICP-MS的循環冷卻水可以用離子交換水嗎?
1. 最好是蒸餾水。
2. 蒸餾水或去離子水應該都可以
，關鍵要水的質量好就行。
3. 蒸餾水或去離子水應該都可以，關鍵要水的質量好就行。
4. 用蒸餾水的目的除了考慮微生物外，還因為有的離子交換水僅使用陰陽樹脂進行去離子處理，過濾效果較差，很易產生懸浮物沉積。
5. 蒸餾水或二次水即可

，每箱加一瓶異丙醇 還有一點，留意一下水箱內的水界麵
，及時添加防止水過少，循環冷卻效率受影響呦.至於什麼時候更換
，也可以用膠管抽一些出來如果呈淡綠色那肯定是該換了。

三十三
、ICP-MS測Ni，最近在做樣品時發現測Ni時空白記數很高，測量過程中會慢慢降低的問題。一般要燒1-2h左右才能穩定，下次測量還是同樣的問題。先是估計進樣和取樣的錐用的時間太長了，換過錐後不久，問題依舊。
1. 如果樣品中有Fe,Ca可能會有幹擾。你試下多做原子量60和59的Ni。
2. 選一個本底低的譜線。
3. 做低含量Ni最好用Pt錐。
4. 有可能是采樣錐錐口老化了
，最簡單的辦法，換套新錐試試。
5. 測低量的調高靈敏度是一個辦法，若不是

，你測的是什麼基體?一般新錐的錐口也需要穩定
，高靈敏度唯一的缺點就是太消耗儀器。
6. 把四極杆清洗一下，就什麼事都沒有了。
7. 是不是係統被粘汙了，(包括霧化係統以及四極杆等)。首shou先xian更geng換huan霧wu化hua係xi統tong及ji炬ju管guan
，如ru果guo問wen題ti，那na問wen題ti可ke能neng在zai四si極ji杆gan係xi統tong了le。如ru果guo不bu清qing洗xi，在zai不bu測ce高gao含han量liang鎳nie的de情qing況kuang下xia，至zhi少shao半ban年nian以yi上shang能neng得de到dao改gai善shan!
8. Fe有一個原子量57.9的同位素，CaO的也是58所以會對Ni57.9有影響。
9. 用碰撞池He模式，測58Ni，可以很好地消除40Ar18O、40Ca18O
、23Na35Cl的幹擾。

三十四、半定量，為何29和33處出現巨大的峰.29Si和33S能測?
1. 主要是N2H和O2H造成的, 低含量的不太好測, 如果測SI, 最好用HCL介質和高純氬氣, 會好些。
2. 我這裏經常做半定量分析的。有用內標和不用內標兩種方法，通常選擇不用內標的方法。
3. 我做過，推薦不使用內標，很簡單的，編一個半定量方法，采集一個空白溶液，一個標準溶液(可用調諧液)和樣品溶液
，用標液較一下可得半定量結果。

三十五、我用的是安捷倫的
，為什麼用AUTO TUNE調機總不能得到好的效果?
1. 一般機器調協不必要用到auto tune，auto tune建議隻用來作em的。agilent的用戶手冊上有各個的調節範圍你可以從各項調節範圍來作。最常用的時炬管的位置的3gecanshu，zaihuatiaoshangmanmandetiaojiekandaoxinhaoyouxiangshangshengdequshihouyouxiajiang，tiaojiedaoxinhaodebofeng。meixiangdouzheyangtiao。bingqiebuyongtiantiantiaojie
，xiacitiaojiexinhaodecps差<30% 就可以了。
2. 推薦調EM用自動，其他參數均可手動，電壓也可以調
，儀器手冊有範圍
，調多了經驗就出來了。