開機自檢與自校：

本儀器具備計算機自檢與波長自校正功能
，開機後顯示窗兩側8燈會亮，指示進入自檢與自校狀態，約5分鍾。

預熱：

儀器開機自檢與自校成功後，應30分鍾預熱後才能進行測定工作。如緊急應用時請注意隨時調0%T，調100%T。

重調100%基線：

目的是精校100%基線。調整時機：要對某波段範圍作精密波長掃描曲線前
；扣除參考樣品背景時或示差分析
；開機一定時間後；操作程序如下：
(1)在樣品室通光位上置入參考樣品；
(2)在起始波長、結束波長、波長間隔三標尺下用▲或▼確定起始波長
、結束波長
、波長間隔參數值後

，再按波長參數鍵至當前波長 燈亮。
(3)按功能+▲啟動基線校正功能，啟動後顯示窗左側當前波長燈亮。

調零：

目的：在定波長定量分析中，校正基本讀數標尺兩端（配合100%T調節），進入正確定量測試狀態；

調整時機：需在某一波長做定量分析，改變測試波長時或測試一段時間後，以及作搞精度測試前

；

操作：按“0%”鍵
，基能自動調整零位。狀態為“--------”0%T值則不顯示。

調整100%T：

目的：在定波長定量分析中，校正基本讀數標尺兩端（配合調零）

，進入正確測試狀態；

調整時機：進入定波長定量測試
，更換測試波長或測試一段時間後，以及作高精度測試前（一般在調零前應加一次100%T調整以使儀器內部自動增益到位）


；

操作：將用作背景的空白樣品置入樣品室光路中
，蓋下試樣蓋按下“100%T”鍵即能自動調整100%T（一次有誤差時可加按）；

注：調整100%T時整機自動增益係統重調可能影響0%T，調整後請檢查0%T，如有變化可重調0%一次。

設定波長：

按波長參數鍵到當前波長燈亮，按▲或▼至要求波長，再按波長參數鍵確認，顯示窗改變波長至設定值即可。

改變試樣槽位置讓不同樣品進入光路：
　　儀(yi)器(qi)標(biao)準(zhun)配(pei)置(zhi)中(zhong)試(shi)樣(yang)槽(cao)架(jia)是(shi)手(shou)動(dong)四(si)位(wei)置(zhi)的(de)
，用(yong)儀(yi)器(qi)前(qian)麵(mian)的(de)式(shi)樣(yang)槽(cao)拉(la)杆(gan)來(lai)改(gai)變(bian)，打(da)開(kai)樣(yang)品(pin)室(shi)蓋(gai)以(yi)便(bian)觀(guan)察(cha)樣(yang)品(pin)槽(cao)中(zhong)的(de)樣(yang)品(pin)位(wei)置(zhi)最(zui)靠(kao)近(jin)測(ce)試(shi)者(zhe)的(de)為(wei)“0”位置，依次為“1”、“2”、“3”位置。對應拉杆推向最內為“0”位置
，依次向外拉出相應“1”“2”“3”位置，當拉杆到位時有定位感，到位時請前後輕輕推動一下以確保定位正確。
改變標尺：

第一類（光度類）有：
透射比：用於對透明固體或透明液體測量透射特點
；
吸光度：用於采用標準曲線法或絕對吸收法定量分析，在動力學測定時亦能利用本係統；
濃度因子：用於在濃度因子法濃度直讀時設定濃度因子
；
濃度直讀：用(yong)於(yu)標(biao)樣(yang)法(fa)濃(nong)度(du)直(zhi)讀(du)時(shi)

，作(zuo)設(she)定(ding)和(he)讀(du)出(chu)，也(ye)用(yong)於(yu)設(she)定(ding)濃(nong)度(du)因(yin)子(zi)後(hou)的(de)濃(nong)度(du)直(zhi)讀(du)。各(ge)標(biao)尺(chi)之(zhi)間(jian)的(de)轉(zhuan)換(huan)用(yong)模(mo)式(shi)鍵(jian)操(cao)作(zuo)並(bing)由(you)其(qi)向(xiang)對(dui)應(ying)的(de)指(zhi)示(shi)燈(deng)指(zhi)示(shi)，開(kai)機(ji)設(she)定(ding)為(wei)透(tou)射(she)比(bi)每(mei)按(an)一(yi)次(ci)順(shun)序(xu)循(xun)環(huan)。

第二類（波長類）有：
當前波長：指示當前波長，在設定波長時
，可以用▲或▼設定指示波長。
起始波長：指示作起始波長的設定
，可用▲或▼設定。
結束波長：指示作結束波長的設定，可用▲或▼設定。
波長間隔：指示波長掃描時數據點一般是1nm，峰穀檢測時自動設定為0.1nm。