全反射X熒光（TXRF）分析技術是近年來才發展起來的多元素同時分析技術。TXRF利用全反射技術
，使樣品熒光的雜散本底比X熒光能量色散譜儀（EDXRF）本底降低約四個量級
，從而大大提高了能量分辨率和靈敏度，避免了XRF測量中通常遇到的本底增強或減弱效應；同時TXRF技術又繼承了EDXRF方法的優越性。它突出的優點是檢出限低（pg、ng/mL級以下）
、用樣量少（μL、ng級）、準確度高（可用內標法）、簡便
、快速
，而且可進行無損分析
，成為一種不可替代的全新的元素分析方法。國際上每兩年召開一次TXRF分析技術國際討論會，該技術被譽為在分析領域是最具有競爭力的分析手段

、在原子譜儀領域內處於領先地位。

在X熒光譜儀範圍內

，與波長色散譜儀（WDXRF）方法比較
，由於TXRF分fen析xi技ji術shu用yong樣yang量liang很hen少shao，也ye不bu需xu要yao製zhi作zuo樣yang品pin的de煩fan瑣suo過guo程cheng，又you沒mei有you本ben底di增zeng強qiang或huo減jian弱ruo效xiao應ying，不bu需xu要yao每mei次ci對dui不bu同tong的de基ji體ti做zuo不bu同tong的de基ji體ti校xiao準zhun曲qu線xian。另ling外wai由you於yu使shi用yong內nei標biao法fa
，對dui環huan境jing溫wen度du等deng要yao求qiu很hen低di。因yin而er在zai簡jian便bian性xing
、經濟性
、用樣量少等方麵，都比WDXRF方法有明顯的優越性。

在整個元素分析領域內，TXRF技術可以對從鈉(11Na )到鈾(92U)的所有元素進行分析，一次可以對近30種元素進行同時分析，這是原子吸收譜儀中的ETAAS和FAAS方法難以做到的。與質譜儀中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析（NAA）等方法相比較，TXRF分析方法在快速、簡便、經濟、多元素同時分析
、用樣量少、檢出限低、定量性好等方麵有著綜合優勢。

北京普析通用儀器有限責任公司作為分析儀器的專業製造商，推出的TXRF8雙光路全反射X熒光分析儀，其性能優良

，質量可靠，是分析人員的好幫手。該產品通過了國家製造計量器具CMC認證，還通過了省部級專家鑒定

，認定“其主要技術指標處於國內領先
，達到了國際先進水平”，其後又經過多年的應用研究和改進提高，目前TXRF8雙光路全反射X熒光分析儀已推廣使用，在快速定性定量分析、貴金屬分析
、濕法冶金元素分析中都有著獨特的優勢。

  ◇  應用領域：
    TXRF在元素分析領域內的應用現狀和發展前景都是令人鼓舞的。它可以廣泛用於地礦、冶金

、化工、食品、生物、醫藥
、環保、法檢、考古
、高純材料等等各領域內的常量、微量
、痕量元素分析測定，特別在半導體工業中的矽表麵質量控製方麵
，有著不可替代的優勢，目前已在國際上得到廣泛應用。
 地礦：金礦
、銅精料和鎳精料
、螢石
、長石

、氧化銻
冶金：鎳電解液、銅陽極泥
、高冰鎳中的貴金屬、光譜純Rh、金銀首飾、鑄鐵
、軸承
化工：柴油中的硫含量、各種催化劑
、陶瓷釉料
環境保護：自來水、大氣飄塵、汙水汙泥
生物：海洋動物牙齒和體液
醫藥：頭發和指甲中的有益有害元素、丹參中的有害微量元素
食品：飲料中的元素
刑偵法醫：現場樣品鑒定
考古：青銅器等
材料：高純石英雜質含量
，KTP晶體注入Er的認定